Optimal experimental designs for accelerated failure time with Type I and random censoring
- Rivas-López, M.J.
- López-Fidalgo, J.
- del Campo, R.
ISSN: 1521-4036, 0323-3847
Argitalpen urtea: 2014
Alea: 56
Zenbakia: 5
Orrialdeak: 819-837
Mota: Artikulua
Aldizkaria:
Biometrical Journal