Contribución al estudio de la respuesta de detectores de semiconductor en la detección de partículas alfa

  1. CACERES MARZAL, DOLORES
Zuzendaria:
  1. Alejandro Martín Sánchez Zuzendaria

Defentsa unibertsitatea: Universidad de Extremadura

Defentsa urtea: 1997

Epaimahaia:
  1. Julio Gutiérrez Muñoz Presidentea
  2. María Pilar Suárez Marcelo Idazkaria
  3. José Lorenzo Ferrero Calabuig Kidea
  4. José Díaz Bejarano Kidea
  5. Juan Carlos Lozano Lancho Kidea

Mota: Tesia

Teseo: 57568 DIALNET

Laburpena

LA FORMA DE LINEA OBTENIDA EN ESPECTROMETRIA ALFA UTILIZANDO DETECTORES DE SEMICONDUCTOR SE PUEDE AJUSTAR A UNA FUNCION RESULTADO DE LA CONVOLUCION DE UNA GAUSSIANA CON DOS EXPONENCIALES TRUNCADAS A LA IZQUIERDA. LA ASIMETRIA DE ESTA LINEA ESTA CAUSADA POR EFECTOS PRODUCIDOS EN EL PROCESO DE DETECCION Y QUE ESTAN ORIGINADOS TANTO EN LA PUENTE COMO EN EL DETECTOR. ESTOS EFECTOS PUEDEN ESTUDIARSE VARIANDO LA DISTANCIA ENTRE LA FUENTE Y EL DETECTOR, Y VARIANDO EL ANGULO DE INCLINACION ENTRE AMBOS. DE ESTA FORMA SE OBSERVAN MINUSCULAS VARIACIONES EN LA FORMA DE LINEA DEL PICO ALFA QUE HACEN POSIBLE EL ESTUDIO E INTERPRETACION, DESDE EL PUNTO DE VISTA MICROSCOPICO, DE LA INTERACCION DE LAS PARTICULAS ALFA CON LA MATERIA EN EL PROCESO DE DETECCION.