Study of current-mode noise of Si1-xGex/Si strained heterojunctions

  1. Martín, M.J.
  2. Pardo, D.
  3. Velázquez, J.E.
Revista:
Physica Status Solidi (B) Basic Research

ISSN: 0370-1972

Año de publicación: 1997

Volumen: 204

Número: 1

Páginas: 462-465

Tipo: Artículo

DOI: 10.1002/1521-3951(199711)204:1<462::AID-PSSB462>3.0.CO;2-V GOOGLE SCHOLAR
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