New system for measuring magnetic after-effect: Application to nickel ferrite
- Zazo, M.
- Raposo, V.
- Ramos, J.F.
- Iñiguez, J.
- De Francisco, C.
ISSN: 0304-8853
Datum der Publikation: 2001
Ausgabe: 226-230
Nummer: PART II
Seiten: 1391-1392
Art: Artikel