Experimental study of depletion mode Si/SiGe MOSFETs for low-temperature operation

  1. Fobelets, K.
  2. Ferguson, R.
  3. Gaspari, V.
  4. Velazquez, E.
  5. Michelakis, K.
  6. Despotopoulos, S.
  7. Zhang, J.
  8. Papavassiliou, C.
Actes:
European Solid-State Device Research Conference

ISSN: 1930-8876

ISBN: 8890084782

Any de publicació: 2002

Pàgines: 555-558

Tipus: Aportació congrés

DOI: 10.1109/ESSDERC.2002.194991 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus