High-frequency noise in FDSOI MOSFETs: A Monte Carlo investigation

  1. Rengel, R.
  2. Mateos, J.
  3. Pardo, D.
  4. González, T.
  5. Martín, M.J.
  6. Dambrine, G.
  7. Danneville, F.
  8. Raskin, J.-P.
Konferenzberichte:
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering

ISSN: 0277-786X

Datum der Publikation: 2003

Ausgabe: 5113

Seiten: 379-386

Art: Konferenz-Beitrag

DOI: 10.1117/12.490176 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus