Comparison of sub-micron Si:SiGe heterojunction nFETs to Si nMOSFET in present-day technologies

  1. Fobelets, K.
  2. Jeamsaksiri, W.
  3. Papavasilliou, C.
  4. Vilches, T.
  5. Gaspari, V.
  6. Velazquez-Perez, J.E.
  7. Michelakis, K.
  8. Hackbarth, T.
  9. König, U.
Revista:
Solid-State Electronics

ISSN: 0038-1101

Any de publicació: 2004

Volum: 48

Número: 8

Pàgines: 1401-1406

Tipus: Article

DOI: 10.1016/J.SSE.2004.01.017 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus