Thermal noise in nanometric DG-MOSFET
- Dollfus, P.
- Bournel, A.
- Galdin-Retailleau, S.
- Velázquez, J.E.
ISSN: 1569-8025, 1572-8137
Argitalpen urtea: 2006
Alea: 5
Zenbakia: 4
Orrialdeak: 479-482
Mota: Artikulua
ISSN: 1569-8025, 1572-8137
Argitalpen urtea: 2006
Alea: 5
Zenbakia: 4
Orrialdeak: 479-482
Mota: Artikulua