Noise behavior of InP-based double-gate and standard HEMTs: A comparison
- Vasallo, B.G.
- González, T.
- Pardo, D.
- Mateos, J.
- Wichmann, N.
- Bollaert, S.
- Roelens, Y.
- Cappy, A.
ISSN: 0094-243X, 1551-7616
ISBN: 9780735404328
Datum der Publikation: 2007
Ausgabe: 922
Seiten: 167-170
Art: Konferenz-Beitrag