Transport boundary condition for semiconductor structures
- Volovichev, I.N.
- Velázquez-Perez, J.E.
- Gurevich, Yu.G.
ISSN: 0038-1101
Datum der Publikation: 2008
Ausgabe: 52
Nummer: 11
Seiten: 1703-1709
Art: Artikel
Zeitschrift:
Solid-State Electronics