Monte Carlo analysis of memory effects in nano-scale rectifying diodes
- Iñiguez-de-la-Torre, I.
- González, T.
- Pardo, D.
- Mateos, J.
ISSN: 1862-6351
Datum der Publikation: 2008
Ausgabe: 5
Nummer: 1
Seiten: 82-85
Art: Konferenz-Beitrag
ISSN: 1862-6351
Datum der Publikation: 2008
Ausgabe: 5
Nummer: 1
Seiten: 82-85
Art: Konferenz-Beitrag