Monte Carlo analysis of thermal effects in GaN HEMTs

  1. Mateos, J.
  2. Pérez, S.
  3. Pardo, D.
  4. González, T.
Konferenzberichte:
Proceedings of the 2009 Spanish Conference on Electron Devices, CDE'09

ISBN: 9781424428397

Datum der Publikation: 2009

Seiten: 459-462

Art: Konferenz-Beitrag

DOI: 10.1109/SCED.2009.4800533 GOOGLE SCHOLAR