Geometry and bias dependence of trapping effects in planar GaN nanodiodes

  1. Sanchez-Martin, H.
  2. Garcia-Perez, O.
  3. Iniguez-De-La-Torre, I.
  4. Perez, S.
  5. Mateos, J.
  6. Gonzalez, T.
  7. Gaquiere, C.
Actas:
2017 Spanish Conference on Electron Devices, CDE 2017

ISBN: 9781509050727

Año de publicación: 2017

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/CDE.2017.7905246 GOOGLE SCHOLAR
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