Infering Bayesian models using Rough Set

  1. F. Díaz 1
  2. F. Fdez-Riverola 1
  3. J.M. Corchado 2
  1. 1 Artificial Intelligence Research Group, department of Computer Science, Escuela Superior de Ingeniería en Informática, Universidad de Vigo, Ourense
  2. 2 Departamento de Informática y Automática, Universidad de Salamanca, Facultad de Ciencias, Salamanca, Spain
Livre:
Artificial neural networks in pattern recognition
  1. Juan M. Corchado (coord.)
  2. Luis Alonso (coord.)
  3. Colin Fyfe (coord.)

Éditorial: Imprenta Catedral

ISBN: 8495721228

Année de publication: 2001

Pages: 27-32

Type: Chapitre d'ouvrage

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