Interface roughness effects in Gaussian superlattices

  1. Banfi, F.
  2. Bellani, V.
  3. Gómez, I.
  4. Diez, E.
  5. Domínguez-Adame, F.
Revista:
Semiconductor Science and Technology

ISSN: 0268-1242

Ano de publicación: 2001

Volume: 16

Número: 5

Páxinas: 304-309

Tipo: Artigo

DOI: 10.1088/0268-1242/16/5/305 GOOGLE SCHOLAR
Fonte de datos: Scopus