On the spectral strength of the noise source entering the transfer impedance method

  1. Shiktorov, P.
  2. Gružinskis, V.
  3. Starikov, E.
  4. González, T.
  5. Mateos, J.
  6. Pardo, D.
  7. Reggiani, L.
  8. Varani, L.
Revista:
Applied Physics Letters

ISSN: 0003-6951

Ano de publicación: 1997

Volume: 71

Número: 21

Páxinas: 3093-3095

Tipo: Artigo

DOI: 10.1063/1.120256 GOOGLE SCHOLAR
Fonte de datos: Scopus