Monte carlo comparative study of current-mode noise in Si/Si1-xGexstrained heterojunctions

  1. Martin, M.J.
  2. Pardo, D.
  3. Velázquez, J.E.
Actas:
European Solid-State Device Research Conference

ISSN: 1930-8876

ISBN: 2863322214

Año de publicación: 1997

Páginas: 340-343

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/ESSDERC.1997.194435 GOOGLE SCHOLAR
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