Microscopic analysis of the influence of strain and band-gap offsets on noise characteristics in Si1-xGex/Si heterojunctions
- Martinez, M.J.M.
- Pardo, D.
- Velázquez, J.E.
ISSN: 0021-8979
Datum der Publikation: 1998
Ausgabe: 84
Nummer: 9
Seiten: 5012-5020
Art: Artikel