Microscopic analysis of generation-recombination noise in semiconductors under dc and time-varying electric fields

  1. Pérez, S.
  2. González, T.
  3. Delage, S.L.
  4. Obregon, J.
Revista:
Journal of Applied Physics

ISSN: 0021-8979

Any de publicació: 2000

Volum: 88

Número: 2

Pàgines: 800-807

Tipus: Article

DOI: 10.1063/1.373739 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus