Microscopic analysis of generation-recombination noise in semiconductors under dc and time-varying electric fields

  1. Pérez, S.
  2. González, T.
  3. Delage, S.L.
  4. Obregon, J.
Zeitschrift:
Journal of Applied Physics

ISSN: 0021-8979

Datum der Publikation: 2000

Ausgabe: 88

Nummer: 2

Seiten: 800-807

Art: Artikel

DOI: 10.1063/1.373739 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus