High injection effects on noise characteristics of Si BJTs and SiGe HBTs

  1. Martín-Martínez, M.J.
  2. Pérez, S.
  3. Pardo, D.
  4. González, T.
Zeitschrift:
Microelectronics Reliability

ISSN: 0026-2714

Datum der Publikation: 2001

Ausgabe: 41

Nummer: 6

Seiten: 847-854

Art: Artikel

DOI: 10.1016/S0026-2714(01)00022-1 GOOGLE SCHOLAR
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