Numerical and experimental study of a 0.25 μm fully-depleted silicon-on-insulator MOSFET: Static and dynamic radio-frequency behaviour

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Revista:
Semiconductor Science and Technology

ISSN: 0268-1242

Año de publicación: 2002

Volumen: 17

Número: 11

Páginas: 1149-1156

Tipo: Artículo

DOI: 10.1088/0268-1242/17/11/303 GOOGLE SCHOLAR
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