Experimental study of depletion mode Si/SiGe MOSFETs for low-temperature operation

  1. Fobelets, K.
  2. Ferguson, R.
  3. Gaspari, V.
  4. Velazquez, E.
  5. Michelakis, K.
  6. Despotopoulos, S.
  7. Zhang, J.
  8. Papavassiliou, C.
Actas:
European Solid-State Device Research Conference

ISSN: 1930-8876

ISBN: 8890084782

Año de publicación: 2002

Páginas: 555-558

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/ESSDERC.2002.194991 GOOGLE SCHOLAR
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