High-frequency noise in FDSOI MOSFETs: A Monte Carlo investigation

  1. Rengel, R.
  2. Mateos, J.
  3. Pardo, D.
  4. González, T.
  5. Martín, M.J.
  6. Dambrine, G.
  7. Danneville, F.
  8. Raskin, J.-P.
Actas:
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering

ISSN: 0277-786X

Año de publicación: 2003

Volumen: 5113

Páginas: 379-386

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1117/12.490176 GOOGLE SCHOLAR
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