Microscopic investigation of large-signal noise in semiconductor materials and devices

  1. González, T.
  2. Pérez, S.
  3. Starikov, E.
  4. Shiktorov, P.
  5. Gružinskis, V.
  6. Reggiani, L.
  7. Varani, L.
  8. Vaissière, J.C.
Actes:
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering

ISSN: 0277-786X

Any de publicació: 2003

Volum: 5113

Pàgines: 252-266

Tipus: Aportació congrés

DOI: 10.1117/12.488959 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus