100nm InAlAs/InGaAs double-gate HEMT using transferred substrate

  1. Wichmann, N.
  2. Duszynski, I.
  3. Bollaert, S.
  4. Mateos, J.
  5. Wallart, X.
  6. Cappy, A.
Actas:
Technical Digest - International Electron Devices Meeting, IEDM

ISSN: 0163-1918

Año de publicación: 2004

Páginas: 1023-1026

Tipo: Aportación congreso