Comparison of sub-micron Si:SiGe heterojunction nFETs to Si nMOSFET in present-day technologies

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Revista:
Solid-State Electronics

ISSN: 0038-1101

Año de publicación: 2004

Volumen: 48

Número: 8

Páginas: 1401-1406

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/J.SSE.2004.01.017 GOOGLE SCHOLAR
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