Kink-effect related noise in short-channel InAlAs/InGaAs high electron mobility transistors

  1. Vasallo, B.G.
  2. Mateos, J.
  3. Pardo, D.
  4. González, T.
Zeitschrift:
Journal of Applied Physics

ISSN: 0021-8979

Datum der Publikation: 2004

Ausgabe: 95

Nummer: 12

Seiten: 8271-8274

Art: Artikel

DOI: 10.1063/1.1745119 GOOGLE SCHOLAR