2D ensemble Monte Carlo modelling of bulk and FD SOI MOSFETs: Active layer thickness and noise performance
- Rengel, R.
- Pardo, D.
- Martín-Martínez, M.J.
ISSN: 0268-1242
Datum der Publikation: 2004
Ausgabe: 19
Nummer: 4 SPEC. ISS.
Art: Konferenz-Beitrag