Thermal noise in nanometric DG-MOSFET
- Dollfus, P.
- Bournel, A.
- Galdin-Retailleau, S.
- Velázquez, J.E.
ISSN: 1569-8025, 1572-8137
Año de publicación: 2006
Volumen: 5
Número: 4
Páginas: 479-482
Tipo: Artículo
Revista:
Journal of Computational Electronics