Transport boundary condition for semiconductor structures

  1. Volovichev, I.N.
  2. Velázquez-Perez, J.E.
  3. Gurevich, Yu.G.
Revista:
Solid-State Electronics

ISSN: 0038-1101

Año de publicación: 2008

Volumen: 52

Número: 11

Páginas: 1703-1709

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/J.SSE.2008.04.037 GOOGLE SCHOLAR
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