1/f noise in p-channel screen-grid field effect transistors (SGrFETs) as a device evaluation tool

  1. Fobelets, K.
  2. Rumyantsev, S.L.
  3. Ding, P.W.
  4. Velazquez-Perez, J.E.
Actas:
AIP Conference Proceedings

ISSN: 0094-243X,  1551-7616

ISBN: 9780735406650

Año de publicación: 2009

Volumen: 1129

Páginas: 349-352

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1063/1.3140471 GOOGLE SCHOLAR
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