Terahertz imaging using strained-Si MODFETs as sensors

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Actas:
2012 International Silicon-Germanium Technology and Device Meeting, ISTDM 2012 - Proceedings

ISBN: 9781457718625

Año de publicación: 2012

Páginas: 74-75

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/ISTDM.2012.6222464 GOOGLE SCHOLAR
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