Cryogenic performance of low-noise InP HEMTs: A Monte Carlo study

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  2. Schleeh, J.
  3. Nilsson, P.-A.
  4. Wadefalk, N.
  5. Mateos, J.
  6. Grahn, J.
Zeitschrift:
IEEE Transactions on Electron Devices

ISSN: 0018-9383

Datum der Publikation: 2013

Ausgabe: 60

Nummer: 5

Seiten: 1625-1631

Art: Artikel

DOI: 10.1109/TED.2013.2253469 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus