Terahertz imaging using strained-Si MODFETs as sensors

  1. Meziani, Y.M.
  2. Garcìa-Garcìa, E.
  3. Velázquez-Pérez, J.E.
  4. Coquillat, D.
  5. Dyakonova, N.
  6. Knap, W.
  7. Grigelionis, I.
  8. Fobelets, K.
Revista:
Solid-State Electronics

ISSN: 0038-1101

Any de publicació: 2013

Volum: 83

Pàgines: 113-117

Tipus: Article

DOI: 10.1016/J.SSE.2013.01.030 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus