Experimental and theoretical studies of Sub-THz detection using strained-Si FETs

  1. Delgado Notario, J.A.
  2. Javadi, E.
  3. Clerico, V.
  4. Fobelets, K.
  5. Otsuji, T.
  6. Diez, E.
  7. Velázquez-Pérez, J.E.
  8. Meziani, Y.M.
Actes:
Journal of Physics: Conference Series

ISSN: 1742-6596,  1742-6588

Any de publicació: 2017

Volum: 906

Número: 1

Tipus: Aportació congrés

DOI: 10.1088/1742-6596/906/1/012003 GOOGLE SCHOLAR lock_openAccés obert editor
Font de les dades: Scopus