Influence of ballistic and pocket effects on electron mobility in Si MOSFETs

  1. Łusakowski, J.
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  10. Skotnicki, T.
Actas:
Proceedings of ESSDERC 2005: 35th European Solid-State Device Research Conference

ISBN: 9780780392038

Año de publicación: 2005

Volumen: 2005

Páginas: 561-564

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/ESSDER.2005.1546710 GOOGLE SCHOLAR
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