Technological Parameters and Edge Fringing Capacitance in GaN Schottky Barrier Diodes: Monte Carlo Simulations

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Actas:
Proceedings of the 2021 13th Spanish Conference on Electron Devices, CDE 2021

ISBN: 9781665444521

Año de publicación: 2021

Páginas: 94-97

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/CDE52135.2021.9455727 GOOGLE SCHOLAR
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