1/f Noise in p-Channel Screen-Grid Field Effect Transistors (SGrFETs) as a Device Evaluation Tool

  1. Fobelets, K.
  2. Rumyantsev, S. L.
  3. Ding, P. W.
  4. Velazquez-Perez, J. E.
Colección de libros:
NOISE AND FLUCTUATIONS
  1. Macucci, M (coord.)
  2. Basso, G (coord.)

ISSN: 0094-243X

ISBN: 978-0-7354-0665-0

Año de publicación: 2009

Volumen: 1129

Páginas: 349-350

Congreso: 20th International Conference on Noise and Fluctuations

Tipo: Aportación congreso

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Fuente de los datos: WoS