Intrinsic Noise Sources in a Schottky Barrier MOSFET: a Monte Carlo Analysis
- Pascual Corral, Elena
- Rengel, Raul
- Martin, Maria J.
- Macucci, M (coord.)
- Basso, G (coord.)
ISSN: 0094-243X
ISBN: 978-0-7354-0665-0
Año de publicación: 2009
Volumen: 1129
Páginas: 329-332
Congreso: 20th International Conference on Noise and Fluctuations
Tipo: Aportación congreso