Ellipsometric characterization of random and random-dimer GaAs-AlxGa1-xAs superlattices

  1. Bellani, V.
  2. Parravicini, G.B.
  3. Diez, E.
  4. Domínguez-Adame, F.
  5. Hey, R.
Zeitschrift:
Physical Review B - Condensed Matter and Materials Physics

ISSN: 0163-1829

Datum der Publikation: 2002

Ausgabe: 66

Nummer: 19

Seiten: 1933101-1933103

Art: Artikel

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