Ellipsometric characterization of random and random-dimer GaAs-AlxGa1-xAs superlattices
- Bellani, V.
- Parravicini, G.B.
- Diez, E.
- Domínguez-Adame, F.
- Hey, R.
ISSN: 0163-1829
Ano de publicación: 2002
Volume: 66
Número: 19
Páxinas: 1933101-1933103
Tipo: Artigo