A microscope interpretation of hot-electron noise in Schottky barrier diodes

  1. Gonzalez, T.
  2. Pardo, D.
  3. Varani, L.
  4. Reggiani, L.
Zeitschrift:
Semiconductor Science and Technology

ISSN: 0268-1242

Datum der Publikation: 1994

Ausgabe: 9

Nummer: 5 S

Seiten: 580-583

Art: Artikel

DOI: 10.1088/0268-1242/9/5S/049 GOOGLE SCHOLAR
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