A microscope interpretation of hot-electron noise in Schottky barrier diodes

  1. Gonzalez, T.
  2. Pardo, D.
  3. Varani, L.
  4. Reggiani, L.
Aldizkaria:
Semiconductor Science and Technology

ISSN: 0268-1242

Argitalpen urtea: 1994

Alea: 9

Zenbakia: 5 S

Orrialdeak: 580-583

Mota: Artikulua

DOI: 10.1088/0268-1242/9/5S/049 GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus