Influence of spatial correlations on the analysis of diffusion noise in submicron semiconductor structures

  1. Mateos, J.
  2. González, T.
  3. Pardo, D.
Aldizkaria:
Applied Physics Letters

ISSN: 0003-6951

Argitalpen urtea: 1995

Alea: 67

Orrialdeak: 685

Mota: Artikulua

DOI: 10.1063/1.115203 GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus