Influence of spatial correlations on the analysis of diffusion noise in submicron semiconductor structures

  1. Mateos, J.
  2. González, T.
  3. Pardo, D.
Revista:
Applied Physics Letters

ISSN: 0003-6951

Ano de publicación: 1995

Volume: 67

Páxinas: 685

Tipo: Artigo

DOI: 10.1063/1.115203 GOOGLE SCHOLAR
Fonte de datos: Scopus