Monte Carlo Analysis of the Behavior and Spatial Origin of Electronic Noise in GaAs MESFET's

  1. González, T.
  2. Pardo, D.
  3. Varani, L.
  4. Reggiani, L.
Zeitschrift:
IEEE Transactions on Electron Devices

ISSN: 1557-9646,  0018-9383

Datum der Publikation: 1995

Ausgabe: 42

Nummer: 5

Seiten: 991-998

Art: Artikel

DOI: 10.1109/16.381998 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus