Analysis of voltage noise in forward-biased silicon bipolar homojunctions: Low- and high-injection regimes
- Martín, M.J.
- Pardo, D.
- Velázquez, J.E.
ISSN: 0003-6951
Datum der Publikation: 1997
Ausgabe: 71
Nummer: 23
Seiten: 3382-3384
Art: Artikel
Zeitschrift:
Applied Physics Letters