Effect of dimensionality on shot-noise suppression in nondegenerate diffusive conductors

  1. Gonzalez, T.
  2. Mateos, J.
  3. Pardo, D.
  4. Bulashenko, O.M.
  5. Reggiani, L.
Aldizkaria:
Microelectronics Reliability

ISSN: 0026-2714

Argitalpen urtea: 2000

Alea: 40

Zenbakia: 11

Orrialdeak: 1951-1954

Mota: Artikulua

GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus