Microscopic analysis of generation-recombination noise in semiconductors under dc and time-varying electric fields
- Pérez, S.
- González, T.
- Delage, S.L.
- Obregon, J.
ISSN: 0021-8979
Año de publicación: 2000
Volumen: 88
Número: 2
Páginas: 800-807
Tipo: Artículo